產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
CMXDL+超聲波測厚儀在CMXDL超聲波測厚儀的基礎(chǔ)上，增加了A掃描功能，3個獨立閘門。CMXDL+超聲波測厚儀有多種測量模式，能測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。
詳情介紹：
CMXDL+超聲波測厚儀特點：
測量方式（*測量基體厚度、同時測量基體和涂層的厚度、*測量涂層厚度）
顯示模式（數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<*cmx>）
增益可調(diào)節(jié)：超低、低、中、高、**
增益值*高可到110dB
自動增益控制（AGC）
時間增益校正（TCG）
探頭自動識別，自動調(diào)零和溫度補償
*大值、*小值顯示
可存儲64個用戶參數(shù)設(shè)置
高速掃查（50次/秒）
高達140HZ的脈沖重復(fù)頻率
B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀
A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）
差值測量模式
高速掃查功能可用于快速找到壁厚的*小值
上/下限聲光報警功能
數(shù)據(jù)存貯：可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數(shù)
可通過軟件與計算機進行數(shù)據(jù)交換，方便用戶打印檢測報告
CMXDL+超聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)：
鍵盤
12鍵按鍵
測量范圍
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
帶自動溫度補償?shù)慕缑娌?底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多層測量(PECT)方式：0.63－508mm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）
穿透涂層測量(E-E)模式：2.54 —102mm（因涂層的不同會有所變化）
*測量涂層(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會有所變化）
顯示精度
0.01mm（可方便的進行公制和英制的轉(zhuǎn)換）
聲速范圍
1250－13995m/s
工作溫度
-10℃—60℃
探頭類型
1—10MHZ雙晶探頭
探頭接口
LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列測厚儀的探頭
通訊接口
RS232接口（配備USB轉(zhuǎn)RS232接頭）
電池工作時間
150小時（3節(jié)5號堿性電池）100小時（3節(jié)5號鎳鎘電池）
省電功能
5分鐘無任何操作后能自動關(guān)機
顯 示 屏
62X45.7mm（240 X 160像素），大數(shù)字厚度值顯示（厚度值數(shù)字高度可達17.78mm）
外觀尺寸
63.5X165X31.5 mm
重量
382 g
顯示精度
合金外殼