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表面粗糙度的測(cè)量
日期：2025-10-21 12:28
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摘要：
表面粗糙度的測(cè)量
表面粗糙度，是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷產(chǎn)生的不平度現(xiàn)象。那表面粗糙度都要如何測(cè)量呢？以下為4種常用的測(cè)量方法：
1.比較法:將被測(cè)表面和表面粗糙度樣板直接進(jìn)行比 較，多用于車(chē)間，評(píng)定表面粗糙度值較大的工件。
2.光切法:利用光切原理，用雙管顯微鏡測(cè)量。常用于測(cè)量 RZ為0.5-60微米粗糙度。
3.干涉法:利用光波干涉原理，用干涉顯微鏡測(cè)量。 可測(cè)量RZ和Ry值。
4.印模法:利用石臘、低熔點(diǎn)合金或其它印模材料，壓印在被測(cè)零件表面，放在顯微鏡下間接地測(cè)量被測(cè)表面的粗糙度。適用于笨重零件以及內(nèi)表面。
常用表面粗糙度儀：粗糙度儀、PosiTector RTR表面粗糙度測(cè)量?jī)x、Elcometer7061表面粗糙度測(cè)試儀
表面粗糙度，是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷產(chǎn)生的不平度現(xiàn)象。那表面粗糙度都要如何測(cè)量呢？以下為4種常用的測(cè)量方法：
1.比較法:將被測(cè)表面和表面粗糙度樣板直接進(jìn)行比 較，多用于車(chē)間，評(píng)定表面粗糙度值較大的工件。
2.光切法:利用光切原理，用雙管顯微鏡測(cè)量。常用于測(cè)量 RZ為0.5-60微米粗糙度。
3.干涉法:利用光波干涉原理，用干涉顯微鏡測(cè)量。 可測(cè)量RZ和Ry值。
4.印模法:利用石臘、低熔點(diǎn)合金或其它印模材料，壓印在被測(cè)零件表面，放在顯微鏡下間接地測(cè)量被測(cè)表面的粗糙度。適用于笨重零件以及內(nèi)表面。
常用表面粗糙度儀：粗糙度儀、PosiTector RTR表面粗糙度測(cè)量?jī)x、Elcometer7061表面粗糙度測(cè)試儀